由于其獨特的光學和電學性能，2D半金屬擴大了異質結構中的材料范圍，使其超出了用于室溫寬帶檢測應用的傳統(tǒng)窄帶隙材料。近日，香港理工大學Yuen Hong Tsang、鄭州大學吳翟、Zeng Longhui概述了由異質結構設計的寬帶光電探測器（PD）的前沿和最新進展，異質結構將2D半金屬與幾種不同維度的材料協(xié)同結合。
本文要點：
1) 作者從基礎研究開始，對基本材料性能進行了深入分析，并總結了合成方法。然后，作者對這些光電探測器的分類、潛在的光電探測機制和優(yōu)值進行了分析概述。隨后，作者對異構集成設備進行了全面分析。
2) 該綜述強調了寬帶PD的各種光電應用，包括圖像傳感、光通信、位置敏感檢測、集成傳感和計算、自旋電子學和計算光譜學。最后，作者總結了推進二維半金屬材料光電探測的挑戰(zhàn)和機遇。
參考文獻：
Xue Li et.al Van Der Waals Hybrid Integration of 2D Semimetals for Broadband Photodetection Adv. Mater. 2025
DOI: 10.1002/adma.202415717
https://doi.org/10.1002/adma.202415717
